設備・装置一覧

下記に表示されている設備・装置一覧表について、説明しています。


設備(設備群)名 装置名 写真 利用状況 教員
(役職)
技術職員
(職能)
核磁気共鳴装置(NMR) 核磁気共鳴スペクトル測定装置・NMR 800MHz
(Bruker BioSpin Inc. AVANCE III)
核磁気共鳴スペクトル測定装置・NMR 800MHz(Bruker BioSpin Inc. AVANCE III) 大木進野
(教授)
宮里朗夫
(エキスパート)
核磁気共鳴スペクトル測定装置・NMR 400MHz
(Bruker BioSpin Inc. AVANCE III)
核磁気共鳴スペクトル測定装置・NMR 400MHz (Bruker BioSpin Inc. AVANCE III)
質量分析装置 フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
(Bruker Daltonics Inc. FT-ICR MS SolariX)
フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計・FT-ICR MS(Bruker Daltonics Inc. Solarix-JA)
大坂一生
(講師)
マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析計
(Bruker Daltonics Inc. MALDI-TOF/TOF MS UltrafleXtreme)
X線回折装置
(XRD)
薄膜材料結晶性解析X線回折装置・XRD
(パナリティカル社製 X'Pert PRO MRD Epi)
薄膜材料結晶性解析X線回折装置・XRD(PANalytical X'Pert PRO MRD Epi) 高村由起子
(准教授)
全自動水平型多目的X線回折装置
(リガク XRD SmartLab)
全自動水平型多目的X線回折装置・XRD(リガク SmartLab)強力X線回折装置・XRD(リガク RINT2500)自動X線回折装置・XRD(リガク RINT2100)デスクトップX線回折装置(リガク MiniFlex600) 前之園信也
(教授)
木村一郎
デスクトップX線回折装置
(リガク MiniFlex600)
 分光装置
  
X線光電子分光装置・XPS
(島津クレートス社製 AXIS-ULTRA DLD)
X線光電子分光装置・XPS(島津/Kratos AXIS-ULTRA DLD) 鈴木 寿一
(教授)
村上達也
(エキスパート)
木村一郎
X線光電子分光装置・XPS
(ファイソンズインスツルメンツ社製S-ProbeTM2803型)
X線光電子分光装置・XPS (Fisons Instruments S-ProbeTM) 鈴木 寿一
(教授)
伊藤暢晃
光電子分光装置
(理研計器製 UPS AC-2)
光電子分光装置・UPS(理研計器製 AC-2) 村田 英幸
(教授)
木村一郎
村上達也
(エキスパート)

正・逆光電子分光装置
(テックサイエンス PYS-200+IPES)
村田 英幸
(教授)
村上達也
(エキスパート)
木村一郎
ラマン散乱分析装置
(HORIBA-JY T64000)
小矢野幹夫
(教授)
伊藤暢晃
極低温物性評価装置 超伝導量子干渉磁束計・SQUID
(カンタム・デザイン社製MPMS-XL7SK)
超伝導量子干渉磁束計・SQUID(Quantum Design Inc. MPMS-XL7SK) 岩崎 秀夫
(教授)
透過型電子顕微鏡 高分解能透過型電子顕微鏡・HR-TEM
(日立ハイテクノロジーズ社製 H-9000NAR)
高分解能透過型電子顕微鏡・HR-TEM(日立ハイテクノロジーズ社製 H-9000NAR) 大島義文
(准教授)
東嶺孝一
(エキスパート)
透過型電子顕微鏡・TEM
(日立ハイテクノロジーズ社製 H-7650)
透過型電子顕微鏡・TEM(日立ハイテクノロジーズ社製 H-7650)
原子分解能走査透過型電子顕微鏡・STEM
(日本電子社製 JEM-ARM200F)
原子分解能走査透過型電子顕微鏡・STEM(日本電子社製 JEM-ARM200F)
多機能顕微鏡
(EPMA/AFM等)
高分解能走査型電子顕微鏡・SEM
(日立ハイテクノロジーズ社製 S-5200)
高分解能走査型電子顕微鏡・SEM(日立ハイテクノロジーズ社製 S-5200) 富取正彦
(教授)
伊藤暢晃
電子プローブマイクロアナライザー・EPMA
(日本電子社製 JXA-8900L)
電子プローブマイクロアナライザー・EPMA(日本電子社製 JXA-8900L) 能登屋治
走査型オージェ電子分光顕微鏡・SAM
(アルバックファイ社製 SAM670Xi)
走査型オージェ電子分光顕微鏡・SAM(アルバックファイ社製 SAM670Xi)
大気中原子間力顕微鏡・AFM
(SII社製 SPI-3800N/SPA-400)
大気中原子間力顕微鏡
電子顕微鏡観察試料作製装置 集束イオンビーム加工装置・FIB

(SIIナノテク社製 SKI3050)


集束イオンビーム加工装置・FIB(SIIナノテク社製 SMI3050) 前之園信也
(教授)
東嶺孝一
(エキスパート
GFIS搭載微細加工機 電界電離ガスイオン源搭載集束イオンビーム装置・GFIS-FIB (株式会社日立ハイテクサイエンス製 MR-GFIS ) 赤堀誠志
(准教授)
宇野宗則
(高度専門技術者)
薄膜作製装置 ECRイオンシャワー製膜エッチング装置(株式会社エリオニクス EIS-220) 鈴木寿一
(教授)
村上達也
(エキスパート)
分子・物質合成支援 物理系ナノ材料の設計・試作・評価 分子・物質合成支援 高村由起子
(准教授)
化学系ナノ材料の設計・試作・評価 松村和明
(准教授)
バイオ系ナノ材料の設計・試作・評価 平塚祐一
(准教授)
3次元CAD機能付ワイヤー放電加工システム 放電加工機:Sodick社 AG-400LE
物理系ナノ材料の試作・評価用機器の試作・改良
・既設の真空装置(チャンバー)の部品、機構の改良
・新設する機械部品の設計、試作、CAD図面の提供
・機械部品の設計時におけるノウハウ、技術指導
実験装置の試作・改良 富取正彦 宇野宗則
(高度専門技術者)
仲林裕司
(高度専門技術者)

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