1/15 研究科セミナー(物質・材料研究機構:桜井健次氏)

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KS-Ⅰ棟2階 中講義室 15:30 - 17:00
「時々刻々の変化を追跡するリアルタイムX線分析技術-反射率法とイメージングを中心に」
独立行政法人 物質・材料研究機構 高輝度光解析グループリーダー 桜井 健次 氏 

講演要旨
 新しい物質・材料の研究では、最先端の高度な計測ツールの活用が成否を分け
る必須のものであると言われながら、もう一方の現実として、経験主義的なアプ
ローチも根強く、「発見」よりも、むしろ発見のあとの「最終確認」の道具とし
て便利に利用される状況がある。それも一概に悪いわけではないが、もし、もっ
と「ものつくり」に密着し融合した計測・解析ツールが登場すれば、研究スタイ
ルが大きく変化し、物質・材料の探索のあり方も大きく変化する可能性がある。
 本研究では、そのような発想から、密着・融合のために時間軸を備えたX線計
測・解析技術の開発に取り組んでいる。講演では、表面や埋もれた界面の変化を
とらえるのに適したリアルタイムのX線反射率測定法や、元素の動画撮像も可能
なX線イメージング技術を中心に紹介を行い、物質・材料の研究への新たな応用
の可能性を提案する。 

講演者略歴
1988年   東京大学大学院工学系研究科博士課程修了
  同年   科学技術庁金属材料技術研究所入所
2001年   組織改正により(独)物質・材料研究機構
2004年4月  筑波大学大学院数理物質科学研究科物質・材料工学専攻教授を兼任
2011年4月 (独)物質・材料研究機構 高輝度光解析グループリーダーに就任

担当教員 マテリアルサイエンス研究科 教授 村田 英幸(内線:1531)

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