北陸先端科学技術大学院大学 [JAIST] - 研究者総覧
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富取 正彦 (トミトリ マサヒコ) 教授
マテリアルサイエンス系、応用物理学領域

■学位

東京理科大学理学士 (1980),東京工業大学理学修士 (1982),東京工業大学理学博士 (1986)

■職歴

東京工業大学大学院総合理工学研究科助手 (1986)

■専門分野

表面科学,ナノプローブテクノロジーによる表面構造と電子物性の研究、ナノ力学

■研究テーマのキーワード

表面、電子物性、走査型プローブ顕微鏡、走査型トンネル顕微鏡、原子間力顕微鏡、電界放射

■研究課題

新しい研究手法の開発に基づいた固体表面構造と電子状態の極微視的観察・解析
超高真空走査型プローブ顕微鏡(SPM)などの表面顕微分光法を中心として、装置・手法を新たに開発しながら、原子スケールで固体表面の構造や電子状態を解析する.

半導体、金属、酸化物表面の原子配列構造と電子状態の原子スケール解析、超薄膜成長、ナノ構造の作成と量子効果の分光学的解析、電界電子放射に関連した表面物性研究と応用
固体結晶表面や超薄膜成長の様子を原子スケールで観察し、あわせて電子状態を解析する.特異な結晶構造・ヘテロ構造を対象として、ナノ構造を創製する.電界電子放射現象などを利用して、針状試料先端の原子配列、組成やその電子状態を調べ、走査型プローブ顕微鏡の探針開発に資するとともに、電界放射励起・電子定在波励起を利用した表面解析法を開発し、電子トンネル・波動性に由来する現象の理解を深める.

ナノ力学の展開的研究と原子・分子の操作・組立、非接触原子間力顕微鏡を利用したナノスケールでの原子・分子の反応過程の解析
非接触原子間力顕微鏡(nc-AFM)に代表される原子−原子間や分子間の微視的領域に働く微弱な力を計測・制御する技術(ナノプローブ技術)をベースに、原子や分子をナノ力学に基づいて操作・組み立てる新しい研究分野(原子分子のナノ力学)を発展させ、個々の原子・分子の表面反応の解析や、絶縁体にも適用可能な「次世代の原子・分子の科学・技術」を構築する.

■研究業績

◇著書

  • Bias dependence of NC-AFM images and tunneling current variations on semiconductor surfaces, Noncontact Atomic Force Microscopy,T. Arai and M. Tomitori,edited by S. Morita et al.,Springer-Verlag, Berlin,2002,72-92
  • "表面の構造解析 「第5章  走査トンネル顕微鏡による表面の観察」"、表面科学シリーズ第3巻、八木 克道 編 ,富取正彦,丸善,1998,p.174-203
  • "STM/STS Study of Semiconductor Clusters", Mesoscopic Materials and Clusters: Their Physical and Chemical Properties, edited by T.Arai, K.Mihama, K.Yamamoto and S.Sugano, Springer Series in Cluster Physics,M. Tomitori,Springer-Verlag, Kodansha, Tokyo,1999,419-427

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◇発表論文

  • Quasi-stabilized hydration layers on muscovite mica under a thin water film grown from humid air,Toyoko Arai, Kohei Sato, Asuka Iida, and Masahiko Tomitori,Scientific Reports,7,4054, 11 pages,2017/06/22
  • Nanoscale characterisation of TiO2(110) annealed in air,Akira Sasahara, Tatsuya Murakami, Tu Tran Uyen Le and Masahiko Tomitori,Applied Surface Science,on line,2017/9/29
  • 真空環境を離れて原子分解能へ ―SPMの最近の進歩―,富取 正彦,顕微鏡,51,2,66、1,2016/08/30

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◇講演発表

  • Surface electron spectroscopy using scanning probe microscopy from field-emission to force interaction under a tip-sample bias voltage (invited),Masahiko Tomitori,MRS fall meeting 2007,Boston,2007/11/26-30
  • FM-AFM analysis of the interface with quasi-stabilized hydration layers between a thin water film and a muscovite mica surface,Toyoko Arai, Kohei Sato, Asuka Iida, Masahiko Tomitori,20th International conference on non-contact atomic force microscopy 2017 (nc-AFM2017),Garden Hotel Suzhou, Suzhou, China,2017/9/25-29
  • 疑似体液に浸漬させた構造規定酸化チタン表面のナノスケール解析,笹原亮、村上達也、富取正彦,日本セラミックス協会 2017年 年会,日本大学 駿河台キャンパス、東京都千代田区,2017/3/17-19

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■担当講義

応用電磁気学特論,ナノ固体解析論(実習付)

■学外活動

◇所属学会

  • 日本顕微鏡学会、走査型プローブ顕微鏡分科会,代表幹事(2006-2011),2006-
  • 日本真空協会,2002-
  • 日本金属学会,2002-

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◇国際会議主催状況

  • 第13回非接触原子間力顕微鏡国際会議 2010 (NCAFM 2010),金沢大学、教授、新井豊子,July 31- Aug. 5, 2010,Kanazawa, Ongakudo
  • 第9回非接触原子間力顕微鏡国際会議 2006 (NCAFM 2006) ,神戸大学、教授、大西洋,2006.7.16-20,神戸国際会議場、組織委員(プログラム委員長)
  • the 13 International Conference on Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (STM'05),Hokkaido Univ. Prof. H. Tokumoto,July 3-8, 2005,Sapporo Convention Center

◇その他の国際・国内貢献等

  • 日本学術振興会、ナノプローブテクノロジー第167委員会,副委員長 (2007-)
  • 第8回アジア−太平洋電子顕微鏡学会議,国内組織委員(2002-2004)
  • 第17回非接触原子間力顕微鏡国際会議,プログラム委員,2014/01/01 - 2014/08/08

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■賞等

  • ナノプローブテクノロジー賞,日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会,20064

■共同研究等希望テーマ

  • ナノ力学を利用した観察・評価と極微細加工
  • 半導体・金属のナノスケール表面構造解析
  • 電界放射現象を利用したナノテクノロジー

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