北陸先端科学技術大学院大学 [JAIST] - 研究者総覧
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富取 正彦 (トミトリ マサヒコ) 教授
マテリアルサイエンス系、応用物理学領域

25件中1-20件目

  • 1. Compendium of Surface and Interface Analysis, Atom Probe Field Ion Microscope,Masahiko Tomitori,Springer,2018,pp. 27 - 32
  • 2. 「ポストシリコン半導体 ―ナノ成膜ダイナミックスと界面量子効果―」、第4編 評価・解析 第2章 電子分光学的評価研究 "半導体表面構造・電荷分布の原子スケール解析を実現する走査プローブ顕微鏡",笹原 亮、富取 正彦(分担執筆),出版社エヌ・ティー・エス,2013,pp. 443-453
  • 3. 実験物理科学シリーズ6 "走査プローブ顕微鏡「発展編 第10章 非接触AFMの展開」",富取 正彦、新井 豊子,共立出版,2009,357-363
  • 4. Applied Scanning Probe Methods X,,B. Bhushan, H. Fuchs, M. Tomitori (eds),Springer,2008/03/05
  • 5. Applied Scanning Probe Methods VIII,,B. Bhushan, H. Fuchs, M. Tomitori (eds),Springer-Verlag,2008/03/05
  • 6. Applied Scanning Probe Methods IX,B. Bhushan, H. Fuchs, M. Tomitori (eds),Springer-Verlag,2008/03/05
  • 7. 表面物性工学ハンドブック 第2版 第6章 SPM 6.2 STM 6.2.2 装置と測定法、6.2.3 観察例1",富取正彦,丸善,2007
  • 8. ナノテクノロジー入門シリーズ 第3巻 極限微小系のナノ物性測定 Chap. 5 走査型トンネル顕微鏡 (STM),富取正彦,共立出版,2007,87-99
  • 9. Scanning probe microscopy roadmap 2005, Chap.2 scanning tunneling microscopy,M. Tomitori,Springer-Verlag,2006,7月14日
  • 10. ナノテクノロジー入門シリーズ 第4巻 基礎装置工学・試料作製技術 Chap. 4 真空工学,富取正彦,共立出版,2007,65-93
  • 11. Scanning probe microscopy roadmap 2005, Chap.18 Characterization of semiconducting materials,S. Hasegawa and M. Tomitori,Springer-Verlag,2006,133-137
  • 12. 走査型プローブ顕微鏡 最新技術と未来予測 2.1 走査型トンネル顕微鏡(STM),富取正彦,丸善,2005,7月14日
  • 13. 走査型プローブ顕微鏡 最新技術と未来予測 5.2 半導体材料の評価,長谷川修司、富取 正彦,丸善,2005,139-143
  • 14. 実践ナノテクノロジー 走査プローブ顕微鏡と局所分光 第4章 力学的分光 4.4散逸・非保存力測定,富取 正彦、新井 豊子,裳華房,2005,196-207
  • 15. 第18回大学と科学 極微な力で拓くナノの世界 −原子・分子のナノ力学最前線− ナノ世界における静電気力とエネルギー損失,富取正彦,クバプロ,2004,37-49
  • 16. 新訂版・表面科学の基礎と応用 「第4章表面分析法 第5節ナノプローブ法 1電界放射顕微鏡(FEM),富取正彦,エヌ・ティー・エス,2004,806-808
  • 17. "表面分析技術選書 ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 3. 装置と実験方法 3.1 走査トンネル顕微鏡"、日本表面科学会編,富取 正彦,丸善,2002,29-40
  • 18. "原子分子のナノ力学 2章 2.3 ダンピングの測定方法 p. 22-26、2.7 NC-AFM/STM同時測定 p. 42-45、4章 半導体のナノ力学的複合測定 p. 93-103",富取 正彦、新井 豊子,丸善,2003
  • 19. Bias dependence of NC-AFM images and tunneling current variations on semiconductor surfaces, Noncontact Atomic Force Microscopy,T. Arai and M. Tomitori,edited by S. Morita et al.,Springer-Verlag, Berlin,2002,72-92
  • 20. Applicability and limitation of scanning probe microscopies for catalytic materials,M. Tomitori and T. Arai,Technology and Educations Publishers,2001,pp. 138-145

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