佐々木 研究室

研究課題とキーワード

当研究室では、高分子材料の構造と物性 について、主として Ｘ線回折法 を用いて研究しています。
教官室はナノセンター２階（C1-24, tel: 0761-51-1450）、実験室は 電子顕微鏡棟１階（C7-15, 内線1485）です。

  1. 機能性高分子の構造解析

    分子鎖形態、 結晶構造、 くし形高分子 、 導電性高分子　の構造評価など、

  2. 中間構造の解析

    相転移、 分子運動、乱れ　などの解析・評価

  3. 高分子の結晶構造解析法の開発

    統合Ｘ線構造解析システム（回折画像処理ソフトウェア）、 Linked-atom Rietveld法 の開発

学生諸君へ

  1. 自由な発想で、鋭敏な感覚を研ぎ澄ませ！
  2. 小さなことであっても新しいことを見い出せ！
  3. 研究室のスケジュール

予定サブテーマ

条件：M253 高分子物性特論を履修していること。
勉強が半分、実験が半分。レポートについては、内容とともに体裁も重視します。
  1. Ｘ線回折によるキャラクタリゼーション （無機材料、高分子材料、生体由来材料）
    　未知試料の同定、結晶系、結晶サイズ、結晶化度、 配向状態、 などの解析を行なう。
  2. 高分子の熱的性質
    　熱分析法 の測定を通して高分子材料の特性を学ぶ。

装置マニュアルのダウンロード

  1. 粉末X線回折データベース ICDD PDF2
  2. 熱量/熱重量分析装置 DSC/TGA-7
  3. 標準粉末Ｘ線回折装置 RINT
  4. 強力Ｘ線回折装置 POWER-X （日本語版） （English version）
  5. 迅速二次元Ｘ線回折装置 RAXIS-II
  6. 小角Ｘ線散乱装置 SAXS
  7. 正極点配向解析装置 Pole Figures
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"Last updated: December, 2008"