2021年7月28日
Normally-off operations in partially-gate-recessed AlTiO/AlGaN/GaN field-effect transistors based on interface charge engineering,
Journal of Applied Physics 130, 014503 (2021); DOI: 10.1063/5.0054045 (Suzuki Lab.). @AIP_Publishing
#JAIST研究 #JAIST論文
https://doi.org/10.1063/5.0054045 鈴木研究室
Journal of Applied Physics 130, 014503 (2021); DOI: 10.1063/5.0054045 (Suzuki Lab.). @AIP_Publishing
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https://doi.org/10.1063/5.0054045 鈴木研究室

